ニュース2015年6月5日
ストレージ開発に向けたNVMe/SATA Express 解析機能を発表─ PCIe Protocol Suite 7.34 版を発表 テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社(代表取締役 原 直)は、PCI Expressプロトコル・アナライザ “Summit PCI Express” 向けに強化されたPCIe Protocol Suite 7.34 版(ソフトウェア) を発表しました。 テレダイン・レクロイはPCIeやNVMe、SATA Expressアナライザの第一人者であり、数多くの装置がシリアル伝送の開発や試験の現場で愛用されています。これら高度なアナライザによって、開発期間の短縮、高効率化、しいてはコスト削減に寄与しております。 SSDストレージのインターフェイスはSAS/ SATA からより進んだNVMeやSATA Express に移行しており、技術者は自由度の少ない設計環境、また標準化されていない評価方法といった現状で苦戦しています。
NVMe/ SATA Express に特化した標準化と詳細解析レポートの制定という点を中心に、Summit T34 は NVMe 強化モード機能により、長時間トレースをサポートするようになりました。Summit T34の記録容量は64GB まで確保出来ます。NVMe 強化モードにより長時間記録を実現し、被試験デバイスの速度によりますが、単一トレースの場合最大数時間のデータ獲得も可能で、性能試験やキューの機能性判定に威力を発揮します。例えばNVMeでのキュー待ち時間の分布を観察することから、性能向上に向けOS やドライバの最適化を図ることも可能となります。 PCI Expressプロダクト・マネージャのJohn Wiedemeierは、次のように述べています。「テレダイン・レクロイは常に機能の向上を図り、開発設計者を助けるツールの提供を心掛けております。 新たに開発されたNVMe モードは不具合原因の特定や性能向上へ向けた作業に対し大いに貢献することと考えます。 」 十数年に渡るPCI Express、SAS/SATAをはじめとするシリアル・プロトコル(インターフェイス)を手掛けてきた豊富な経験に基づき、テレダイン・レクロイは満を持してSSD 性能解析用NVMe/ SATA Express 機能を提供致します。 PCIe Protocol Suite への新たな機能Trace Expert ™ によってSSD やストレージデバイスの動作について、業界で共有認識出来るレベルのレポートが作成されます。NVMe キュー、コマンド、ドアベル/コントロールレジスタ等各種情報が採取解析された上でレポートにまとめられ、幅広い性能測定の統計等、きめ細かく開発者に提供します。Trace Expert ™ に加えPCIe Protocol Suite 7.34 版はキュー実行までをグラフ化し、キューに関わる性能問題は瞬時に目視化され、詳細に解析することが出来ます。 PCIe 規格準拠に関心のあるストレージ開発者は、業界標準となっているUNH(ニューハンプシャー大学) - IOL と緊密に作業を進めていることでしょう。ここでのNVMe コンフォーマンステストでもテレダイン・レクロイのSummit Z3-16 エキササイザ、Summit T3-16 プロトコルアナライザがIOL INTERACT ™とともに用いられております。製品はこの試験にパスすることで、NVMe 協会リストへの登録が許されます。Summit Z3-16 エキササイザはPCI-SIG でのPCIe3.0 コンプライアンステストにも使用されています。またL1 サブステートでの省電力を観る為CLKREQ# を最初にサポートしたのもテレダイン・レクロイです。 Teledyne LeCroy Inc.についてTeledyne LeCroy Inc. は最先端の高度な測定・解析が行える計測機器を製造、販売しています。Teledyne LeCroy Inc.が提供する高性能のデジタル・オシロスコープおよびシリアル・データ・アナライザ、プロトコル・アナライザは多くの分野の電子設計技術者に幅広く利用されています。Teledyne LeCroy Inc.はニューヨーク州チェストナットリッジに本社を置いています。詳細については、ウェブサイト(http://teledynelecroy.com)をご参照ください。 この発表に関する問い合わせ先テレダイン・レクロイ・ジャパン株式会社
|
- Home
- 会社情報
-
製品
- 製品一覧
- オシロスコープ
- プロトコル・アナライザ
- テレダイン・テスト・ツール
- プローブ
- ソフトウエア
- ハードウエア
- アクセサリ
-
ビットエラーレート・テスタ
- 任意波形発生器
- 光変調アナライザ
- TDRとSパラメータの測定/解析
-
高速インターコネクト・
アナライザ - TDR測定器
- デジタル・マルチメータ
- 直流安定化電源
- 電子負荷
- スペクトラム・アナライザ
- 販売終了製品
- RoHS指令対応
- サポート
- ライブラリ
- アプリケーション
- 問合せ

