Digital Scopes
オシロスコープ シリアル解析

 ASDA-J(標準装備)

  • エッジーエッジ・ジッタ
  • ジッタのフィルタリング
  • NサイクルとNジッタの対比プロット
  • ISIプロット
  • アイ・パターンの詳細分析
  • ビット・エラー・レート(BER)の解析

ジッタ測定を大幅に機能強化

シリアル・データ・ストリーム内のジッタを解析するために、サンプリング・オシロスコープ、タイミング・インターバル・アナライザ(TIA)、ビット・エラー・レート(BER)テストセットなど、さまざまな測定機器が使用されています。レクロイのASDA-Jは、これらの標準的な測定機能を単一のジッタ・エンジンに組み込んだ最初のソフトウェアです。ASDA-Jでは、複数の測定手法の相互間にある微細な違いを、単一のソフトウェアで表示・分析することができます。ASDA-Jには、すべてのシリアル・データ規格に適合するジッタ測定機能が含まれています。

エッジーエッジ・ジッタ

この測定モードでは、タイミング・インターバル・アナライザ(TIA)を用いる場合と同じ方法で、データ・エッジに対する相対的なタイミングが測定されます。

  • 測定結果はそのまま表示するか、位相ジッタ測定値と相関するように補正することが可能

  • データ・ストリーム信号の任意に指定したUI間隔のエッジ間のタイミング計測から、Tj、Rj、Djの測定を実行可能

24時間見積り受け付けます。

ジッタのフィルタリング
ASDA-Jには、ITU-TやSONETの測定に対応できるように、ジッタをフィルタリングするモードがあります。

  • カットオフ周波数の上限と下限を指定できるバンド・パス・フィルタ

  • フィルタリングされた波形上で、ジッタのピーク-ピーク値やRMS値などを表示可能


NサイクルとNジッタの対比プロット
このディスプレイには、RMSジッタがUI間隔の関数として表示されます。このディスプレイでは、周期的ジッタの効果を極めて繊細な方法で表示できます。このグラフの最小値は、ランダム・ジッタのrms値を示します。

NサイクルとNジッタの対比プロット 同期Nサイクル・プロット

横軸(UI, Nの値が表示される軸)はジッタが測定される間隔をあらわし、縦軸はその間隔におけるRMSジッタをあらわします。

このディスプレイには、反復的なデータ・パターン内の個々のデータ・エッジに対するデータ依存ジッタが表示されます。データ・パターンは、データ・ストリームから自動的に検出されます。


ISIプロットISIプロット
ISIプロットでは、指定したビット長(3〜10)の最後から2番目のビットと最後のビットの間のエッジについて、データ依存ジッタ(DDj)の寄与分のみを反映したアイ・パターンが表示されます。したがって、繰り返しビット・パターンを使用しないでデータ依存ジッタを測定できます。

 

 


アイ・パターンの詳細分析
アイ・パターンの詳細分析マスクに対する不良位置表示では、アイマスクを逸脱した個々のビットが表示されます。SDAは検査対象のデータ・ストリームを連続した複数UI捕捉し、アイ・パターンを測定します。アイ・パターンを生成する際に、ソフトウエアはマスクを逸脱した波形領域に番号をつけるため、不良原因となった特定のビットが識別できるようになります。マスクを逸脱する原因となったビットの前後の信号波形が表示されるため、マスクの逸脱が隣接ビットに関係するものかどうかを簡単に把握することができます。SDAで他のチャンネルで捕捉した波形についても、検査対象の信号と時間を合わせて表示できます。そのため、検査対象のシステムにおいて対象信号がマスクを逸脱するのと他の信号との関係を分析することができます。

オリジナルのビット・シーケンスがアイ・パターンとともに保存されるため、マスクの逸脱原因となったビットを1つ以上検出することができます。このような分析によってマスクの逸脱原因が特定され、デバッグ・プロセスが効率化されます。このディスプレイでは、マスクの逸脱発生箇所の前後に表示するビット数(上限は捕捉したビットの総数)を指定できるため、特定のビット・パターンを容易に検出することができます。マスクの逸脱とビット位置の一覧表も用意されています。


ビット・エラー・レート(BER)の解析ビット・エラー・レート(BER)の解析
ビット・エラー・レート(BER)性能はトランスミッタ上での信号品質試験により予想することができますが、レシーバーのジッタ耐性試験はビット・エラー・レート(BER)を解析しないとできません。SDAでは連続したビットのレコードを捕捉した後、独自のソフトウエア・クロック・リカバリと、データ検出器機能を使用して捕捉した波形データを、ビット・ストリームに変換します。次に、ビット・ストリームを期待するパターンと比較して、ビット・エラーの個数とビット・エラー・レートを確定します。ビット・エラーの位置は3次元のマップに表示できます。このビット・エラー・マップでは、ビット・エラーがフレームまたはパターンに対する相対位置で表示されます。ビット・エラー・マップでは、パターンまたはフレームに関連する問題が明示されるため、ビット・エラーの根本的な原因を究明することができます。

  • トータル・エラー、1のエラー、0のエラー、およびビット・エラー・レート(BER)を測定

  • 1回の捕捉で10-7 までのBERを測定

  • ビット・エラー・マップは、複数回の信号の取込みで検出されたエラーの位置を記録して、低いビット・エラー・レートを計測

  • 基準パターンとしてPRBS5〜PRBS23を使用可能。任意のパターンをSDAに入力するか、ファイルに保存することも可能

ビット・エラー・マップでは、ビット・エラーがフレームまたはパターンに対するの相対位置で表示されます(ビット・エラーは明るい四角形で示されます)。各フレームはビット・エラー・マップにおいて一行として表示されます。フレームは固定長にするか、特定のビット・パターンで区切ることができます(固定長および区切りの両方も可能です)。このマップの下部には、ビット・エラーの個数とビット・エラー・レートが表示されます。 


主な特長/仕様    アイパターン測定
SDAについて シリアル・トリガ
統合解析 その他の基本機能
ジッタ解析 ASDA-J
 

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LeCroy Resources
レクロイ・デジタル・オシロスコープ性能比較表 PDF File 10K
ソフトウエア・オプション機能早見表 PDF File 75K
X-Streamオシロスコープご使用手引き(逆引きマニュアル)Ver.4.2.5 PDF File 1.7MB

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