主な機能と特長
- PCI ExpressRの基本仕様Rev.3.0 ver0.9及びCEM(Card Electromechanical)仕様Rev.3.0 ver.0.7に対応
- 適合試験仕様がリリース前であっても迅速にデバッグが可能です。
- 強力なSDA II解析オプションによる不適合の原因特定
- EYE Doctor IIによりシリアル伝送路のエミュレートやデエンベット、正確な試験の為に受信機イコライザのエミュレートが可能。
- QualiPHY自動試験フレームワークにより接続図表示、オシロスコープの自動制御、レポート作成まで行います。
PCI Express適合試験仕様がリリース前であっても、テレダイン・レクロイの QPHY-PCIe3テスト・ソリューションはオシロスコープを自動制御し、PCI Express基本仕様Rev.3.0 ver.0.9およびCEM(Card Electromechanical)仕様Rev.3.0 ver.0.7に準拠した送信系物理層試験を行うことが出来ます。PCI Express 3.0製品の早期デバックが可能で、近い将来の適合試験に対して素早い準備が可能になります。
もし不適合が発見された場合、テレダイン・レクロイのSDA IIシリアル・データ解析オプションにより原因の特定を迅速かつ容易に行うことが出来ます。SDA IIはEYEおよびジッタ測定を同時に可能で、オシロスコープのアプリケーション・ソフトウエアに完全に組み込まれています。さらに、SDA IIで測定されたEYEおよびジッタパラメータを詳細に見ることで問題の発生箇所を容易に特定することが可能です。
さらに、Eye Doctor IIは伝送路のエミュレーション、デエンベットが可能で、次世代シリアル通信規格に必要となるイコライゼーション・ツールも用意されています。
テレダイン・レクロイのQualiPHYプラットフォームは、容易にカスタマイズ設定可能なインタフェースとなっており、カスタム試験項目およびリミット値の選択が可能です。接続図が表示され、ユーザーは間違いなく接続を行うことが出来ます。総合的な試験レポートを作成します。さらに、QPHY-PCIe3にて試験された全ての波形を保存し、容易に情報を共有したり、前回の試験を簡単にプレイバックすることが可能です。
QPHY-PCIe3試験項目
イコライゼーション設定
- Vtx-fs-no-eq
- Vtx-EIEOS-FS Limits
- Vtx-EIEOS-RS Limits
- Compliance Eye Diagrams
- TTx-DDJ
- TTx-UTJ
- TTx-UDJDD
- TTx-UPW-TJ
- TTx-UPW-DJDD
- Unit Interval
- Vtx-cm-ac-pp
- Vtx-dc-cm
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オーダー・インフォメーション
| モデル名 |
|
| QPHY-PCIe3 |
PCIeコンプライアンス・テスト･オプション(Gen3) |
テスト･フィクスチャはPCI-SIGにお問い合わせください
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