FAQ(よくあるご質問)
 

 

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Q1. レクロイのANALOG PERSISTとは何ですか?

Q2. エリアシングとは何か?防ぐ方法はありますか?

Q3. アナログ・パーシスタンス機能で、残光時間ではなくトリガ回数での制限を設ける事は出来ませんか?

Q4. レクロイ社のオシロスコープの画面上の波形表示が塗りつぶされてしまい、詳細のデータが観測できないのですが?

Q5. レクロイ社のオシロスコープにコンスタレーション・ダイヤグラムを表示するにはどのように設定したらいいですか?

Q6. レクロイ社のオシロスコープでドット・プロット表示できるように設定できますか?

Q7. レクロイ社のアナログ・パーシスタンス(重ね書き)表示機能について聞いたことがありますが、その機能と用途について教えてください。

Q8. ジッタの測定にアイパターンを使用していますが、レクロイ社のオシロスコープでも可能でしょうか?

Q9. ベクトル上の誤差ベクトルを測定するか、またはコンスタレーション・ダイヤログを表示したいのですが、レクロイ社のオシロスコープで可能ですか?


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Q1. レクロイのANALOG PERSISTとは何ですか?

レクロイ社製のDSOに高速波形取込みと表示をする機能(AnalogPersistance)があります。 両者には、サンプリングレートや波形処理等の性能にいくつか相違点があります。 下記の表を参照ください。

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Q2. エリアシングとは何か?防ぐ方法はありますか?

入力信号の周波数がデジタルオシロスコープのサンプリング速度の”2分の1”(ナイキスト周波数)以下になると、波形が正確に表示されなくなる現象をエリアジングと呼びます。一般にデジタルオシロスコープで正確な波形表示を行うには、入力信号の周波数に対して約4〜10倍のサンプリング速度と3倍以上の周波数帯域が必要となります。 

エリアシング詳細

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Q3. アナログ・パーシスタンス機能で、残光時間ではなくトリガ回数での制限を設ける事は出来ませんか?

現時点では、そのような設定はありません。 但し、測定条件によってはシーケンス(ヒストリ)・モードと組み合わせる事で、指定したトリガ回数分だけのパーシスタンス表示が可能です。

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Q4. レクロイ社のオシロスコープの画面上の波形表示が塗りつぶされてしまい、詳細のデータが観測できないのですが?

レクロイ社のオシロスコープでは画面上に波形を表示する時に「コンパクション表示」という独特の表示方法を採用しています。
これは、メモリのデータ長と画面の表示分解能が異なるために、画面上にすべてのデータを表示できないので、圧縮表示をしているためです。レクロイでは、データを圧縮する過程でピーク検出を行い、単純な間引き表示では抜けてしまうようなピークを確実に表示できます。
このような場合でも、全ての波形データはアクイジション・メモリに記憶されているので、拡大機能を用いて波形の詳細を確認する事が可能です。レクロイのマルチ・ズーム機能を使えば、ロングメモリで捕らえた波形の異なる複数の個所を拡大して比較することが非常に簡単に行えます。

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Q5. レクロイ社のオシロスコープにコンスタレーション・ダイヤグラムを表示するにはどのように設定したらいいですか?

コンスタレーション・ダイヤグラムは、デジタル・データを位相エンコーディングする直交信号生成技術を用いたデータ通信システムの性能解析によく使用されます。コンスタレーション・ダイヤグラムは、データの位相状態、すなわち、位相と振幅のエンコード・データをX-Y表示します。詳細についてはLAB 303B(US)を参照してください。また、LAB 415(US)LAB 723(US)およびLAB 743(US)にも、関連する興味深い内容が掲載されていますので、併せて参照してください。

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Q6. レクロイ社のオシロスコープでドット・プロット表示できるように設定できますか?

PRML(Partial Response Maximum Likelihood)ディスク・ドライブ・チャンネルのサンプリング性能を解析する一般的な手法がドット・プロット表示です。ドット・プロット表示の設定方法については、LAB 305(US)を参照してください。

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Q7. レクロイ社のアナログ・パーシスタンス(重ね書き)表示機能について聞いたことがありますが、その機能と用途について教えてください。

アナログ・パーシスタンス(重ね書き)表示は、レクロイ社のLCシリーズ以降のオシロスコープに搭載された機能で、一般にアナログ・オシロスコープでよく起こる信号強度変化を再現します。アナログ・パーシスタンスとカラー・グレード・パーシスタンスの機能などの詳細については、 LAB 306A(US)を参照してください。

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Q8. ジッタの測定にアイパターンを使用していますが、レクロイ社のオシロスコープでも可能でしょうか?

レクロイ社のオシロスコープは、アナログ・パーシスタンス(重ね書き)表示を使用した従来型のアイパターンは可能です。 しかしレクロイでは、各用途に特化したタイミング・パラメータ、さらにはヒストグラムによる統計解析に至るまで数多くの強力なタイミング測定ツールをご用意しており、それらを用いた全く新しい高精度で効率的な測定方法をご提案しています。基本的なジッタ測定の概要については、LAB413(US)を参照してください。ヒストグラムを使用するなどの高度な測定方法については、LAB 715(US)LAB 716(US)、およびLAB 734(日本語)を参照してください。

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Q9. ベクトル上の誤差ベクトルを測定するか、またはコンスタレーション・ダイヤログを表示したいのですが、レクロイ社のオシロスコープで可能ですか?

可能です。レクロイ社のオシロスコープでは、同相成分(I)と直交成分(Q)をX-Y表示して、直交変調信号のベクトルの振幅と位相を測定することができます。詳細については、 LAB 415(US)を参照してください。また、LAB 303A(US)LAB 723(US)およびLAB 743(US)にも、関連する興味深い内容が掲載されていますので、併せて参照してください。

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