FAQ（よくあるご質問）
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信号解析/演算
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| Q1. WaverunnerやWaveProで、パラメータ同士の四則演算はできますか？ |
| Q2. ジッタの精度は？また、その根拠は何ですか？ |
| Q3. 分解能向上演算（ERES）とは何ですか？ |
| Q4. FFT演算等で横軸スケール（周波数軸）を対数表示には出来ませんか？ |
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Q12. スイッチング電源の設計でパワー・デバイスのスイッチング損失を正確に測定したいのですが、お勧めできるシステムを紹介して下さい。 |
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Q22. スイッチング電源やパルス幅変調（PWM）コントローラの変動をプロットしたいのですが、レクロイ社ではこれが行えるオプションがありますか？ |
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Q26. 有効電力と皮相電力を測定したいのですが、レクロイ社のオシロスコープにはこれらのパラメータが用意されていますか？ |
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Q27. タイミング・ジッタを測定したのですが、信号のサンプリング・レートをどのくらいにすれば測定の不確実性を最小化できますか？ |
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Q32. レクロイ社のオシロスコープには、オプションで相関演算機能があると聞いたのですが、この機能は何に使用するのですか？ |
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Q35. フェーズ・ロック・ループについて研究しています。例えば、ステップ応答などのループの動的特性を測定したいのですが、レクロイ社のオシロスコープで測定するにはどうすればいいですか？ |
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Q37. レクロイ社のオシロスコープで利用可能なFFTは回路の周波数応答の測定に使用できますか？ また結果をボード線図で表示できますか？ |
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Q41. レクロイ社のオシロスコープで位相ノイズを測定することはできますか？ 測定できる場合は、そのためのオプションが必要ですか？ |
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| 信号解析/演算 |
| Q1. WaveRunnerやWaveProで、パラメータ同士の四則演算はできますか？ |
| WaveRunner WaveProシリーズでは、2つまでのパラメータの四則演算を行う機能があります。パラメータ設定のメニュ-で、“measure”の選択から“calcを選択してください。（ファームウエアの バージョンアップが必要な場合が有ります。） |
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| Q2. ジッタの精度は？また、その根拠は何ですか？ |
| デジタルオシロスコープを利用したジッタ計測の精度は、本体の時間軸精度、トリガジッタ、サンプリング速度また、測定対象の信号の立上り速度やS/N等様々な要因に影響されます。 |
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| Q3. 分解能向上演算（ERES）とは何ですか？ |
| 分解能向上演算(Enhanced Resolution)とは、移動平均演算を使ったデジタル・フィルタリング機能です。 この機能を使うことにより、加算平均（Average)機能を使用することができない単発信号のS/Nを向上させ、ノイズに埋もれた信号の微小な電位差を検知、表示をするこができるようになります。 |
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| Q4. FFT演算等で横軸スケール（周波数軸）を対数表示には出来ませんか？ |
| ｢X-stream｣のアーキティクチャを採用したWaveMaster, WavePro7000、SDAの各機種では、FFT演算の横軸をログスケールで表示することが可能です。 |
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| Q5. 波形データではなく、パラメータ測定をした数値データを保存したいのですが、方法は有りますか？ |
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パラメータの測定値を保存するには下記の方法があります。 1)ScopeExplore等のDSO⇔PC転送ソフトを利用する。 2)DSOのトレンド演算機能を利用する。 3)X-StreamのDSOではEXCELに出力ができます。 詳細はそれぞれの取扱説明書をご参照ください。 |
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| Q6. WaveMasterでVBSによる波形演算はメモリ長の制限はないのですか？ |
| 基本的にはメモリ長の制限はありません。ただし、メモリ長が長くなると演算に時間がかかるので、あまり実用的ではありません。 |
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| Q7. レクロイの "X-Stream" とは何ですか？ |
| DSOでの波形データ処理を高速に行う為に専用に開発された、LeCroy独自のアーキテクチャの総称です。詳しくはWaveMaster、WavePro7000シリーズのカタログをご参照ください。 |
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| Q8. XMATHやXDEVでどんなことができるのですか？ |
| XDEVオプションは、ユーザが自分の計測項目に合わせて画面メニューをカスタマイズさせたり（CustomDSO機能）、サードパーティのソフト（MS Excel/MATLAB/Mathcad/VisualBasicScript等）を利用してカスタムメイドのパラメータや演算機能を可能にするものです。 XMATHオプションは、レクロイ独自のVI（Virtual Instrument)をつかって測定シーケンスの構築、FFT演算のポイント数拡張（最大25Mポイント）等、標準の演算機能を拡張するためのオプションです。詳細はWaveMaster/SDAカタログの仕様をご参照ください。 |
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| Q9. レクロイ社のオシロスコープでふたつの波形のエッジ間の時間差を計算するパラメータがありますか？ |
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レクロイのオシロスコープでは、２波形の時間差を計算するいくつかのパラメータが用意されています。 "Δt@lvl"というパラメータは任意の２チャンネルで捕捉した波形のエッジ間の時間差を計算します。エッジの方向（＋/−）、スレショールド・レベルは各チャンネルごとに独立して設定することができます。 "Δc2d±"というパラメータはクロック信号とデータ信号間でセットアップ時間、ホールド時間を測定する場合に便利です。 "phase"というパラメータはふたつの信号間の位相を計算します（％、ラジアン、度の単位）。 また、ジッタ解析パッケージを利用すると”hold”、”Setup”、”Skew”といったパラメータを利用して時間差の計測をおこなえるだけでなく、そのバラツキを統計的に解析したり、時系列変動、周波数解析など高度なジッタ解析ができます。 |
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| Q10. LVDSデバイスの評価をしていますが、差動クロック信号のクロスポイントの変動を解析することができますか？ |
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２チャンネルでD+およびD-の差動クロック信号を捕捉します。 次に波形の引き算を行ないその結果の絶対値を取れば、クロスポイントの電圧変動が負のピーク波形として表示されます。"DDM"というソフトウエアの"ltbt"というパラメータを使えばそれぞれのピーク間の時間差を計算することができます。 また、クロスポイントの時間変動を測定するには、「ジッタ・タイミング解析ソフトウエア：JTA」を使って引き算の結果波形のパルス幅を計算する方法もあります（詳細はお問い合わせ下さい）。 |
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| Q11. レクロイ社のオシロスコープで波形の加算平均（積算処理）を行なうことができますか？ |
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加算平均はほとんどの機種が標準で1000回まで可能です。（Waverunnerシリーズは4000回） 積算回数は10進（デシマル）で指定することができます。またWAVAやXMathなどのオプションを装着すれば最高100万回までの積算処理が行なえます。 また”WavePro7000”シリーズ、”WaveMaster”シリーズ、”SDA”シリーズでは、入力チャンネル毎に、波形演算機能とは別にアベレージを行う機能が標準で搭載されています。 |
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| Q12. スイッチング電源の設計でパワー・デバイスのスイッチング損失を正確に測定したいのですが、お勧めできるシステムを紹介して下さい。 |
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レクロイ社では「パワー・メジャーメント・システム」として、オシロスコープ、差動アンプ／差動プローブ・システム、電流プローブなどをセットにしたシステムを用意しています。このシステムを使えば、電流波形と電圧波形のスキュー調整を行ない、パワー損失、SOA（安全動作領域）、ダイナミックON抵抗などの測定が簡単に行なえます。 特に最近のソフトスイッチング技術により、導通損失の重要性が高まっているので、世界最高のオーバードライブ･リカバリー性能を持つDA1855Aの利用をお薦めします。 |
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| Q13. レクロイ社のオシロスコープを使用して周波数変調波形の特性を測定するには？ |
| オプションのジッタ・タイミング解析（JTA）パッケージは、周波数変調（FM）信号から変調波形を抽出するのに最適なツールです。搬送波周波数偏差、変調周波数、変調インデックスはすべて復調波形から測定することができます。 |
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| Q14. 振幅変調信号を解析するには？ |
レクロイ社のオシロスコープには、振幅変調信号を詳細に解析するためのすべての信号処理ツールが搭載されています。測定方法については、LAB406A(US) を参照してください。
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| Q15. 位相変調信号を解析するには？ |
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オプションのジッタ・タイミング解析（JTA）パッケージは、位相変調（PM）信号から変調波形を抽出する場合や、ピーク時の位相偏差を抽出する場合に最適です。このような解析は、連続位相変調を使用している通信システムや、デジタル・データの転送に位相偏移変調を使用している通信システムの解析に有用です。詳細については、LAB407A(US)を参照してください。
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| Q16. デシベルとは何ですか？ dB、dBm、dbV、dBcの記号の意味は？ |
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デシベルの詳細については、LAB412(US)を参照してください。
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| Q17. 指数関数的に変化する時定数を測定するには？ |
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多くの物理現象は指数関数的な立ち上がりエッジまたは立ち下がりエッジを伴う波形として表れます。この場合、指数関数的に変化する時定数によって物理現象の根底にあるプロセスに関する情報が明らかになります。指数関数の時定数は、カーソルを使用して直接測定することもできますが、多くの場合、信号を対数化して加重し、信号の勾配を直接読み取る方がはるかに簡単で、正確です。指数関数的に変化する時定数の測定方法については、LAB
416(US)を参照してください。
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| Q18. レクロイ社のディスク・ドライブ・アナライザを使用して位置誤差を解析するには？ |
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位置誤差解析（PEA:
Position Error Analysis）については、LAB 417(US)を参照してください。
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| Q19. オシロスコープを使用してキャパシタンスを測定できますか？ |
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はい、できます。プロテクション・デバイスのダイナミック・キャパシタンスを測定する方法については、LAB 418(US)を参照してください。基本原理はどのキャパシタンス測定にも適用できます。
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| Q20. レクロイ社のジッタ・タイミング解析パッケージを使用してクロックの安定性を測定できますか？ |
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はい、できます。オプションのジッタ・タイミング解析（JTA）パッケージは、クロック発振器の長期/短期の安定性および環境的な安定性を測定するためのすべてのパラメータと機能を備えています。ジッタ・トラック関数では、ピリオド、周波数、サイクル・ツー・サイクル、デューティ・サイクル、イベント、タイム・インターバル・エラーなどが利用できます。これらの個々のパラメータは、時間の関数としてプロットされます。さらに、これらのパラメータを使ってヒストグラム＆トレンド・グラフを作ることができます。詳細については、LAB 419(US)を参照してください。
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| Q21. ゲート発振器または変調発振器の周波数の安定性を測定する何かいい方法はありませんか？ |
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ゲート発振器またはキーイング発振器は急激にオン/オフされます。このオン/オフ操作が周波数の変化、すなわち、”チャープ（chirp）”を引き起こします。レクロイ社のジッタ・タイミング解析（JTA）パッケージを使用したオシロスコープであれば、変調特性や周波数の安定性の解析は簡単です。LAB
420を参照してください。
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| Q22. スイッチング電源やパルス幅変調（PWM）コントローラの変動をプロットしたいのですが、レクロイ社ではこれが行えるオプションがありますか？ |
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電源装置や工業用制御システムには、一般にパルス幅変調（PWM）技術が使用されています。PWMには、一定の周波数でスイッチング・モード・デバイスを効率的に駆動できる利点があります。オプションのジッタ・タイミング解析（JTA）パッケージとスイッチング電源解析ﾊﾟｯｹｰｼﾞ（PMA2）には、（PWMレギュレータやコントローラの正確なトラッキングや直線性を評価できる）基本的な変調信号を抽出する数多くの機能とパラメータが用意されています。この測定の設定方法については、LAB 421(US)を参照してください。
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| Q23. レクロイ社のオシロスコープを使用して電源の入力変動や負荷変動を自動的に測定する方法はありますか？ |
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電源の仕様には、出力変動やリップルなど、負荷に依存した数多くのパラメータが関連します。レクロイ社のオシロスコープでは、これらの仕様を簡単に測定できる”トレンディング”という高度な演算機能が用意されています。詳細については、LAB 422(US)およびLAB
725(US)を参照してください。
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| Q24. レクロイ社のオシロスコープで機械系の測定はできますか？ |
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レクロイ社のWaverunnerシリーズなどのオシロスコープは、機械的な振動などの関連現象を測定、解析するのに適しています。長い捕捉メモリ、スマート・トリガ、広範な演算/解析機能はメカニカルな測定のニーズに特に適しています。メカニカルな測定用途の例については、LAB
423、LAB
424、およびLAB
425を参照してください。
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| Q25. レクロイ社のオシロスコープで表示される縦軸の測定単位を他の測定単位に変えることは可能ですか？ |
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オシロスコープは基本的に電圧と時間を測定します。レクロイ社のデジタル・オシロスコープに搭載されているリスケール演算機能を使用すれば、測定した電圧変動を適切な単位に変換することができます。電圧を他の測定単位に変換するリスケール機能の使用方法については、LAB 427(US)を参照してください。
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| Q26. 有効電力と皮相電力を測定したいのですが、レクロイ社のオシロスコープにはこれらのパラメータが用意されていますか？ |
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オプションのスイッチング電源解析パッケージ（PMA2）には、有効電力と皮相電力を初めとした専用パラメｰタが用意されています。 オシロスコープは電流と電圧を測定して、波形演算を利用することで電力を計算します。しかし、電力には、瞬間電力、有効電力、皮相電力、無効電力など、さまざまな“顔”があります。このことが混乱の原因になることがしばしばあります。電力の測定に関する混乱の解決方法と各パラメータの測定方法については、LAB
428,
LAB428(HTML) を参照してください。
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| Q27. タイミング・ジッタを測定したのですが、信号のサンプリング・レートをどのくらいにすれば測定の不確実性を最小化できますか？ |
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タイミング・ジッタを測定するときに一般に聞かれる質問です。測定の不確実性に与えるサンプリング・レートの影響については、LAB
429を参照してください。
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| Q28. X-Y座標で表示されるトレースで囲まれた領域を測定する方法はありますか？ |
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周期的な現象を伴う用途では、多くの場合、X-Yプロットで囲まれた領域を測定する必要があります。代表的な例として、磁心に見られるサイクル当たりの電力損失が挙げられます。電力損失は、磁場強度と磁束強度のプロットで囲まれる領域に比例します。この領域は、レクロイ社のオシロスコープの波形演算機能で簡単に測定することができます。波形演算機能を使用した測定方法については、LAB
707Aを参照してください。
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| Q29. 変調連続波送信器を使用してキーレス・エントリ・システムの変調エンベロープの立ち上がり時間を測定するには？ |
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キーレス方式のリモート・エントリ・システムは300〜400
MHzの領域で作動します。これらのシステムをテストする場合は、変調特性を測定する必要があります。通常、連続波の変調を単にオン/オフしてデータ・パケットを生成し、それによって送信器と必要な機能（ドア・ロックの解除など）を識別します。このような場合、変調エンベロープの立ち上がり時間を測定することが重要です。このようなゲート発振器の測定や関連用途については、LAB 713(US)およびLAB
420を参照してください。
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| Q30. 高速フーリエ変換表示を設定するいい方法はありますか？ |
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高速フーリエ変換（FFT）は、捕捉した時間領域信号を、RFスペクトル・アナライザで生成したスペクトルに似た周波数領域スペクトルに変換します。FFTの設定に関する論理的な方法については、LAB
WM714を参照してください。
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| Q31. タイミング・ジッタの統計データの特性を解析したいのですが、そのための最適なツールは何ですか？ |
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タイミング・ジッタはランダムな性質を持つため、ジッタの確率分布関数から基本的な統計データを表示させて抽出することができるヒストグラムが最適なツールです。ヒストグラムを使用して単一または複数のチャンネルのタイミング測定値からジッタを測定する方法については、LAB 715(US)およびLAB
716(US)を参照してください。
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| Q32. レクロイ社のオシロスコープには、オプションで相関演算機能があると聞いたのですが、この機能は何に使用するのですか？ |
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レクロイ社のオシロスコープには、自己相関と相互相関の両方の機能があります。これらの機能は、オプションのPRML解析パッケージを使用してPRMLディスク・ドライブの非線形特性の解析に使用します。 この2つの機能は、その他各種の電子データの測定にも使用できるパワフルで汎用的な信号処理ツールです。自己相関と相互相関の共通用途については、LAB717(US) を参照してください。
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| Q33. ヒストグラムとは何ですか？ その使用方法は？ |
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統計解析を使用してランダムなプロセスを解析し、その原因を究明することができるのがヒストグラムです。パラメータ解析オプションを搭載したレクロイ社のオシロスコープにはヒストグラム作成ツールがあり、ランダムなプロセスを表示して定量化する場合の理想的なツールになっています。ヒストグラムの用途については、LAB 718(US)、719(US)、720(US)、およびLAB721(US)を参照してください。
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| Q34. CDMAなどの直交変調方式による通信信号の瞬間電力（ピーク値と平均値）を測定するには？ |
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最近の通信システムでは、より多くのデータをひとつの送信符号にまとめるという信号の複雑化がますます進んでいます。こうした複雑な信号は、データの依存度を高め、ピーク電力と平均電力の比を高めることとなり、ダイナミック・レンジが大きい増幅器やその他関連のコンポーネントを必要とします。レクロイ社のオシロスコープには、非常に長いデータ・レコードについて瞬間電力を簡単かつ迅速に測定できる機能があるため、こうした通信システムの設計者はダイナミック・レンジの仕様を評価できるようになります。通信信号の測定方法については、LAB 722(US)およびLAB723(US)を参照してください。
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| Q35. フェーズ・ロック・ループについて研究しています。例えば、ステップ応答などのループの動的特性を測定したいのですが、レクロイ社のオシロスコープで測定するにはどうすればいいですか？ |
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フェーズ・ロック・ループ（PLL）のステップ応答を測定するための設定方法については、LAB 726(US)、LAB
736、およびLAB
1007を参照してください。
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| Q36. クロック発生回路や分配回路のジッタを測定したいのですが、専用のツールはありますか？ |
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はい、あります。レクロイ社のジッタ・タイミング解析（JTA）パッケージとJitterProパッケージには、クロック・システムを解析するための専用の測定ツールが各種用意されています。これらの測定に関する広範な解説については、LAB
737、LAB
739(US)、およびLAB
1005を参照してください。
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| Q37. レクロイ社のオシロスコープで利用可能なFFTは回路の周波数応答の測定に使用できますか？ また結果をボード線図で表示できますか？ |
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フィルタ、増幅器、制御システムなどは、それぞれ固有の周波数応答関数によって通常特徴付けられます。これらの関数は、対数振幅と対数周波数をプロットしたボード線図と呼ばれるグラフで通常表示されます。最近のデジタル・オシロスコープに搭載されている演算機能を使用すれば、ステップ関数に対する時間応答の測定値を基準にして回路の周波数応答関数を導き出すことができます。この測定方法については、LAB 740(US)を参照してください。
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| Q38. レクロイ社の4チャンネル・オシロスコープで三相電源を測定するには？ |
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三相三線負荷における電力損失は、2つの位相電流と2つのライン電圧を測定することによって、4チャンネル・オシロスコープでも測定することができます。測定方法については、LAB 741(US)を参照してください。
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| Q39. レクロイ社のオシロスコープを使用してエネルギーを測定するには？ |
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例えば、コンデンサに蓄えられているエネルギーの測定方法については、LAB 742(US)を参照してください。
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| Q40. コンスタレーション・ダイアログに表示されている各ステートのデータ・ポイント数を計数するには？ |
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コンスタレーション・ダイアログは、エンコーディングされたシリアル通信データのステート（状態）をグラフ表示します。多くの場合、各ステートの値の数（統計母集団）を計数する必要があります。このタスクを実行する演算機能の使用方法については、LAB 743(US)を参照してください。
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| Q41. レクロイ社のオシロスコープで位相ノイズを測定することはできますか？ 測定できる場合は、そのためのオプションが必要ですか？ |
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オシロスコープの短期的な安定性は、時間領域におけるジッタと周波数領域における位相ノイズを測定することによって評価されます。この2つの試験方法は基本的な現象が同じであるため、この2つを関連付けることは可能です。また、レクロイ社のオシロスコープには、時間領域に基づくジッタ・タイミング解析（JTA）パッケージや周波数領域に基づく高速フーリエ変換（FFT）機能などの解析ツールが用意されているため、1台の計測器でこの2つのパラメータを測定することができます。測定方法については、LAB
744およびLAB
745を参照してください。
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| Q42. レクロイ社のデジタル・フィルタ・パッケージについて教えてください。 |
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デジタル・フィルタ・パッケージ（DFP）では、測定した波形に対して、ロー・パス、ハイ・バス、バンド・パス、バンド・リジェクトの各デジタル・フィルタを適用することができます。代表的な用途やデジタル・フィルタのバンド幅を拡張する方法については、LAB 746(US)およびLAB
WM747を参照してください。
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