テクニカルノート

テレダイン・レクロイ社の12ビット高解像度オシロスコープを使って、組み込みシステムの電源レールをプロービングする方法は数多くありますが、特定のシナリオでは他の方法よりも効果的なものもあります。このアプリケーションノートでは、これらの強力なオシロスコープを使って電源レールをプロービングする方法を比較検討します。

QEIの様なデジタル・エンコーダは、モータ駆動制御システムにモータ・シャフト速度と角度情報を提供します。MDAは容易にこれらを解釈し、機械的パワー計算に使用するため、基準スピード・フィードバック信号との比較のため、または他の制御とパワー信号との比較のために使用できる速度と角度の値に変換します。

Deadbeat-direct torque and flux control（DB-DTFC)は高速なトルク 変化とトルクを犠牲にせずに損失を制御出来、DCバス電圧を電圧制限動作時に使い切る事が出来るため、field-oriented 制御（FOC）や direct torque 制御（DTC)の代わりとして研 究されています。Volt-second センシング精度の評価には Volt-second を基準とした高精度 計測が必要になります。 テレダイン・レクロイのモータ・ド ライブ・アナライザは、パワー半導体のスイッチング周期ごとにそのような機能を提供します。

シングルエンドからミックスモードのSパラメータに移行する方法と、そこから得られる新たな情報について紹介します。これは、今後、車載イーサネットのコンプライアンスのために行われるMDIのSパラメータ試験を検討する際に役に立ちます。

シングルエンドの Sパラメータをミックスモードの Sパラメータに変換する方法をご紹介します。

MAUI Studio ProのSignal Generator機能で波形を作成する際、最も正確な方法は数式による記述です。このアプリケーションノートでは、一般的に使用される波形の例と、それを記述する数式を紹介します。また、広く一般的に応用可能な波形作成テクニックも紹介します。

MAUI Studio Pro の Signal Generator 機能で波形を作成する際、最も正確な方法は数式による記述です。この資料では、一般的に使用される波形の例と、それを記述する数式を紹介します。また、広く一般的に応用可能な波形作成テクニックも紹介します。

この資料では、ESD 放電パルス波形の正確な特性評価・検証に必要な注意事項について解説し ます。

テレダイン・レクロイの MAUI Studio Pro は、LabNotebook 機能を拡張しており、セットアップや波形を読みこむだけでなく、ソース・オシロスコープのユーザー・インタフェース（インストールされている全てのソフトウェア・オプションを含む）を読みこむことができます。

XDEVで MatLabを使用する場合、演算や計測パラメータの設定メニューからは２つの入力しか指定できません。３つ以上のソースを使ってカスタム演算や計測パラメータを作成する方法を示します。

この資料では、オシロスコープを使ってSENTセンサ情報を解析する新しい手法を紹介します。CANバスの基礎知識を説明した後、オシロスコープを使ってネットワーク機能を測定し、デバッグするための細かいポイントを説明します。

この資料では、他社製の測定器で保存した波形データをMAUI Studio に読み込む方法について説明します。

この資料では、CANバスの基礎 知識を説明した後、オシロスコープを使ってネットワーク機能を測定し、デバッグするための細かいポイントを説明します。

この資料では、TDR 計測器のダイ ナミックレンジがどのように計算されているかを解説します。 Teledyne LeCroy WavePulser40iX 高速インターコネクト・アナ ライザのダイナミックレンジについて述べ、当社の前製品であるSPARQ と比較します。

このアプリケーション・ノートでは、SENT SPC プロトコルについて説明し、Teledyne LeCroy オシロスコープを使用したマスター・トリガ・パルス（MTP）長の妥当性検証の方法を示します。

電気的テストの方法論は以前のUSB3.2コンプライアンス・テストと似ていますが、USB4は主にTBT3物理層に基づいており、これらのテスト方法が採用されています。ここでは、前述のドキュメントで呼び出されたUSB4/TBT3テストアプローチを要約します。

Windows10オシロスコープの使用前に知っておきたい設定方法、注意点など

トレンドとなっている 48V系 パワーエレクトロニクス製品の開発に要求される仕様を満たす差動プローブをご紹介します。

物理計測において交互に出力される２つのパルスを別々に 平均化したい場合があります。 XDEV(高機能カスタマイズオプション)を使用して実現した例を示します。

ボードの汚染は、VRMから消費デバイスに電流を流すパッケージと相互接続(トレースとプレーン)上で発生するノイズです。発生する可能性のある場所の1つは、VRM自体からのものです。たとえば、VRMが生成するスイッチングノイズがあります。

自己攻撃性ノイズは、通常の動作を通じて部品そのものによってそれ自体に加えられるため、そのように呼ばれます。システム内の他の何もそれに影響を与えていません。これを探すときは、ノイズ環境がかなり明確な場所（たとえば、デバイスが評価ボード上にある）で、システムが定常状態にあることを確認する必要があります。

パワー・インテグリティは、組み込みシステムでの発電から消費までの電 力品質の維持に関係します。「良好な」パワー・インテグリティは、ノイズ・レベルを許容範囲内に保つこととして定義できます。 この短いシリーズでは、電力供給ネットワーク（PDN）のノイズの特性評価に焦点を当て、これらの許容誤差を満たすために設計を調整する必要がある場所を知ることを目的としています。

この資料では、IEC61000-4-5 雷サージ試験で使用する試験波形をオシロスコープで確認する際の設定例を示します。 設定には EMCパルスパラメータ・オプションを使用しました。 波形は任意波形発生器で生成したダミーの波形を使用しています。

この資料では、ISO7637-3：過渡サージ試験で使用する試験 波形をオシロスコープで確認する際の設定例を示します。設定にはEMCパルスパラメータ・オプションを使用しました。波形は任意波形発生器で生成したダミーの波形を使用しています。

この資料では、時間領域への影響が重要なシグナル・インテグリティ・アプリケーション用に行われるSパラメータ測定の重要なトピックについて説明します。WavePulser 40iX の2つの重要な設定を決定するための推奨事項が記載されています。

• TDR 捕捉長－パルサーの繰り返し速度に関連していま す
• 周波数ポイント数－これはエンド周波数と必要な周波数分解能に関連しています
  

この資料では WavePulser40iXで使用される、内臓自動校正、マ ニュアルおよび Second-Tier（二段階）校正を含む３つの校正方法について議論します。手動校正と Second-Tier 校正、および機器の工場出荷時校正の方法についての手順も示します。

この資料では、タイムゲーティングとインピーダンス・ピ ーリングと呼ばれるWavePulser40iXで利用可能なディエンベッドのための時間領域技術について解説します。また、これらの時間領域技術をカップリング・ラインで利用する方法についても検討します。

従来のオシロスコープと電流プローブでは、mAオーダーの微小電流を測定する事が困難でしたが、日置電機製の高感度電流プローブと、テレダイン・レクロイの低ノイズ12ビット・オシロスコープを組み合わせることで、微小電流をクリアに測定することができるようになりました。

テレワーク支援サイト、テレワークに役立つ（無料）解析ソフトウエアの紹介、業務効率の改善につながる機能をまとめました。

「テレワーク・在宅勤務」、「感染リスク低減」、「評価期間の短縮」などに役立つ（無償）波形解析ソフトウエアWavePulserの機能・使い方などをご紹介します。

基本的に、オシロスコープは時間軸の機器であり、被試験回路やデバイス からの信号を捕捉するのに用い、時間軸波形として表示します。縦軸が信号の電圧値、横軸が時間軸で、電圧値が時間と共にどのように変化するかを観測します。

前回の記事では、離散フーリエ変換を用いてオシロスコープで捕捉された時間軸の信号をどのようにして周波数軸に変換するかを見てきました。フーリエ変換の使用は繰り返し信号でしか有効でなく、捕捉時間の逆数である最初の基本波の高調波でのみ識別できないことに言及しました。 今回は高速フーリエ変換(FFT)と知られる数学的トリックを見てみましょう。

FFT 計算の 2 つ目の注意点は、より深刻で混乱の原因となります。窓関数 に関する優れた情報としてナショナル・インスツルメントが発行するアプ リケーション・ノートがあります。FFTの窓関数について解説します。

マルチキャリア試験シナリオを生成するには、複数のジェネレータを使用することと、それらを組み合わせるためのマルチプレクサが必要となります。これにより、セットアップが非常に複雑になり、信頼性が低下することもあります。Waveform Editor SWユーティリティとともに高分解能(16ビット)T3AWG3KシリーズやのようなAWGを使用すると、タスクを簡単で柔軟性に優れたものにすることができます。このLAB Briefでは、LFM(Linear Frequency Modulation)でチャープされた5つのキャリアトーンで信号を作成する方法について説明します。

可変周波数モータ・ドライブは非常に大きな運用と制御面でのメリットがあります。しかし、モータの動的制御を可能にするには、研究開発中に検証、デバックと同等の動的な解析能力が必要となります。 テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザ（MDA）はサイクルごとのパワーと高調波歪み値を動的に計測し、波形としてプロットしてそれらの値をAC入力波形と容易に相関をとることが出来ます。

Controlled Area Network (CAN)シリアル・データ・プロトコルは車載および産業アプリケーションにおいて、シリアル・バスを介して情報を伝送します。モータ・アプリケーションにおいては、CANデータはデジタル・エンコードされた電気モータのシャフト速度を含むことがあります。MDAはこのエンコードされたデータを抽出し、アナログ値に変換、再スケーリングしモータ・シャフト回転速度として使用する事が出来ます。

二電力計法は三相システムにおいて必要となる入力チャンネル数を６から４に減らします。 この方法で各ライン－ライン電圧とライン－ニュートラル電流ペアにより計算された電力値は、三相電力合計値は正しいですが、相ごとには一致もしくは平衡しません。しかし、モータ・ドライブ・アナライザ（MDA)はライン－ライン to ライン－中性点変換を実施し、正確で平衡した各相電力値が表示され、適切な三相システム動作の理解を助けます。

自動運転を始め現在の車は大量のデータを処理することが求められていて、それに見合う高速のネットワークが必要とされていま す。低コスト、ハーネスの軽量化、高い信頼性などハードルは高いのですが、既存のイーサネット技術をベースとした車載イーサネッ トに注目が集まっています。 テレダイン・レクロイは、車載イーサネットのコンプライアンス・テスト・ソリューション、デバッグ・ツールキット、ハーネスの評価/デバッグが可能な軽量小型のTDR計測器を提供し、トータルでサポートしています。

世界的な省エネの潮流により、電源、モータ、インバータや、自然エネルギーに用いるパワコンなどの高効率化の要望が急速に高まっています。しかしながら、こうした要望に対応する機器の設計/開発には技術的に困難な課題があり、新しい技術が次々に投入されています。
テレダイン・レクロイでは、こうした新しい技術に対応し、高精度で高機能な評価/試験ソリューションを用意し提供しています。

1990 年代半ばに標準化されて以来、デュアル・データレート(DDR )SDRAMメモリは、ほぼどんなコンピュータでも使用されています。インタフェースのテストにおいては、いくつかの重要なベストプラクティスに従う必要があります。いくつかのベストプラクティスを見てゆきます。

チップ・インタポーザの必要とされるケース、インタポーザを用いてテストする際の注意点などを解説します。

測定精度に悪影響を与えたり、プロービング・セットアップを台無しにしたりすることがある「ワーストプラクティス」について解説します。

この DDR メモリ試験のシリーズで、今で３つの記事で従来からあるプロ ービングやインタポーザの利用あるいはダンピング抵抗に関わる機械的問 題の懸念を示しました。ここからは、DDR 試験自身についてメモリ・インタフェースを検証するための DDR 信号の発生方や正しい試験結果を得 るための Read/Write バースト・パターンの切り分け条件など、予備知識について考えます。

車載イーサネットは多くの機能を処理します。この資料では車載イーサネットの基礎を解説します。

前回の記事では、プロトコルの開発に影響を与えた物理的/機械的制約と業界の動向に焦点を当てて、車載イーサネット技術の概要を説明しました。次にBroadR-Reachプロトコルを詳しく見てみましょう。

前回の記事では車載イーサネット全般、特にBroadR-Reach プロトコルを主題にして検討してきました。今回の記事では、これらのプロトコルを使用することの利点のいくつかを自動車環境で使用されている他のいくつかのプロトコルと比較しながら見てみましょう。

今回の記事では、BroadR-Reachアプリケーションをもう少し詳しく見ていき、100Base-T1との違いについても説明します。

以前、「車載イーサネットの基礎」でその利点と BroadR-Reach の詳細に ついて説明しました。次のトピックでは、プロトコルのテストと物理層の テストに必要な機器の概要について説明します。

ほとんどのネットワーキング方式と同様に、車載イーサネットは、特定のシステムのさまざまなコンポーネントが確実に相互間で信号をやり取りするように標準化されています。プロトコルの規格がある場合は、その規格に準拠しているかどうかもテストする必要があります。この記事は、車載イーサネット規格のPhysical Media Attachment（PMA）のコンプライアンス試験を詳述したシリーズものの第一弾になります。

前回の記事に続いて、100Base-T1 プロトコルのコンプライアンス・テストスイートを構成する 5 つの試験モードの概要を紹介します。

各種の車載イーサネットの電気的コンプライアンス試験について解説します。

これまでの記事で、車載イーサネットのコンプライアンス試験の基礎と５つの試験モードおよび試験セットアップの概要について説明してきました。 ここでは、物理層の電気的試験について解説します。

前回の記事では、7 つの試験のうちの最初の 2 つ について説明しました。最大送信機出力ドループと送信機クロック周波数 です。それでは、マスターモードとスレーブモードでの送信機のタイミン グジッタを見てみましょう。

100Base-T1 仕様で車載イーサネットに指定されているコンプライアンス 試験の中で、送信機歪み試験よりもセットアップが複雑なものはありません。以前の記事で説明した送信機タイミングスレーブジッタ試験と同様に、DUT の送信クロック（TX_TCLK）にアクセスする必要があります。この テストでは DUTの試験モード#4 を使用し、デバイスに送信される妨害正弦波を導入します。

これまで、車載イーサネットのコンプライアンス試験の詳細な説明を続けてきて、前回の投稿では、歪み試験を扱いました。ここでは、送信機パワースペクトル密度の試験を最後としてコンプライアンス試験ソフトウェアの紹介のまとめとします。

これまで、車載イーサネットのコンプライアンス試験全般を詳しく見てきましたので、 試験の実施に必要な試験機器の紹介をしましょう。オシロスコープ自体と、必要な補助機器、テスト・フィクスチャ、プローブ、ケーブルなどでどのようなニーズがあるかを見てみましょう。最後には自動コンプライアンス 試験ソフトウェアについて簡単に説明します。

このアプリケーションノートでは、100Base-T1 車載イーサネット・プロトコルのトポロジとフレーム構造について説明します。

すべての車載イーサネット技術は、1 本のツイストペアケーブル （T1）を使用し、ポイント・ツー・ポイントのネットワークトポロジを採用しているため、違いは主にデータレートとエンコード方法になります。

ミックスモードSパラメータは、差動信号と同相信号の組み合わせの一般的な場合を表します。ミックスモードのSパラメータでモード変換というと、伝送路を通過する際に差動信号が同相信号に、または同相信号が差動信号に変化することを指しています。

すべての車載イーサネット規格では、MDI（Medium Dependent Interface）で実施するSパラメータ試験が定義されています。この資料では車載イーサネット MDI Sパラメータ試験を解説します。

今では、「モノのインターネット(IoT)」が身近になっています。設計者/技術者としてIoTのコンセプトに直接関わっている人もいるもいるかもしれません。ここではIoTに関する一連の記事を、その概要についての説明から始め、その後オシロスコープと関連ハードウェア/ソフトウェアがIoT関連デバイスの設計とデバッグに使用できる最良のツールであることを確認します。

IoT デバイスの増加に伴い、対応するデバッグツールの必要性も生じています。デバッグするIoT デバイスの中には何があるか解説します。

この記事では、IoT の電源における適切なデジタル電源管理の実装とパワーインテグリティについて調べる方法を説明します。

多くのIoTデバイスは他のデバイスまたはホストシステムと通信するために無線を使用します。電源レール信号と同様に、RF信号のプロービングは、できるだけ少ないノイズで、できるだけDUTへの影響を少なく、可能な限り最高の信号忠実度で行う必要があります。

前回の投稿では、Bluetooth Low Energy（BLE）アドバタイズ・バ ーストなどの RF バーストの振幅および周波数復調の実行方法について説 明しました。 続けて、RF 信号を分析する他の方法を解説します。

「モノのインターネット(IoT)」デバイス の構成に関する以前の記事を思い出すと、こうしたデバイスの主な機能の1つとして、その環境を検知し、収集したデータをデジタル化することがあります。多くの場合、IoTデバイスはその環境に関する情報を収集するために多くのセンサを使用します（図1）。多数のセンサーからの信号を同時に捕捉して解析する機能を持つことは、IoTデバイスの設計の適切かつ最適な機能を保証するために重要です。

前回の記事では、IoTデバイスなどの高度な組み込みシステムに入力される可能性がある多くのセンサ信号を捕捉することの難しさと、その問題に対するハードウェア・ソリューションについて説明しました。IoTのデバッグと検証のもう1つの側面は、IC間およびコントローラと周辺機器間の通信を容易にするために使用される低速シリアルデータ規格があります。そのために、3つの低速規格、I2C、SPI、およびUARTを見てみましょう。

前回の記事では、I2C や SPI、UART について説明しました。IoT デバイスの CAN バスのデバッグを見てみます。

これまで「モノのインターネット（IoT）」デバイス用のシリアルデータ規 格のデバッグを見てきましたが、さらに 3 つの一般的なプロトコル、イー サネット、SATA、およびPCIeに目を向けましょう。

IoT デバイスのデバッグとして DDR メモリに関する考察をいくつかご紹介します。

前回の記事では「モノのインターネット（IoT）」デバイスの DDRメモ リのデバッグを多様な角度 （インタポーザがプロービングにどのように役立つか、Virtual-Probe ソフトウェアの利点など）から考察しました。それでは、これらのメモリチップとそのコントローラに関する問題の例をいくつか見て、オシロスコープを使ってどのようにデバッグができるかを見てみましょう。

複雑な産業機械は、モータ・ドライブを使用し工業プロセスをより高精度にしています。サイクル周期ごとの解析アルゴリズムに基づいてモータとドライブ電気動作を完全に理解することは、このFritz Studder AG製円筒研磨機の場合のように、モータと駆動回路がどのように反応するかを理解するのに役立ちます。

テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザは、実稼動中のモータと駆動効率をより良く理解するために、動的(過渡的)損失を測定するのに理想的です。さらに、モータ・ドライブ・アナライザは、既知のモータ定数を使用して鉄損および銅損成分を導出し、それらをエンジニアリングモデルおよび駆動制御フィードバック回路と比較することができます。

破損した LabNotebook .zip ア ーカイブを再構築して、データ ベースを保存したり、保存され た測定をフラッシュバックし たりできるようにする方法に ついて説明します。

Teledyne LeCroy のオプショ ンのひとつに XDEV(高機能カ スタマイズ・オプションがあり ます。）これは強力なカスタマ イズ機能をオシロスコープに 追加します。今回はひとつの例 として、波形の捕捉ごとに動的 にオシロスコープの設定を変 更し、オフセットを補正して積 分演算を行うサンプルをご紹 介します。

スイッチングデバイスの特性評価の際に、様々な社内評価基準に従うために標準の計測パラメータではカバーできないカスタムのパラメータが必要となる場合があります。
この資料では、テレダイン・レクロイ製オシロスコープの機能を用いていくつかのカスタム・パワー・パラメータを作成する例をご紹介します。

ハーフブリッジ回路中のハイサイドとローサイドの同時スイッチングによる短絡故障を防ぐためにデッドタイムの仕様が設けられています。このデッドタイムを検査するサンプルをご紹介します。 また特に実測に困難が伴うハイサイドゲート駆動波形を測定するのに最適な光アイソレーションプローブの実測比較もご紹介します。

HDO4000A、HDO6000A、HDO8000A、MDA800Aオシロスコープにおいて低ノイズシステムアーキテクチャと、ブリック-ウォールに調整された周波数応答と組み合わされたエンハンスド・サンプリング・レートは、高周波の正弦波や高速立ち上がりエッジなどのような入力信号が非常に高い周波数の場合の計測制度を劇的に改善します。

IoT時代のパワーインテグリティ問題やPDNの解析、電源ノイズ解析でおこる様々な課題を解決します。

• 測定系のノイズが大きくて微小な電源ノイズが観測できない
• 高周波の周辺ノイズが混入して電源ノイズが観測できない
• プローブの負荷効果で、電源レールの電圧が低下してしまう　他

高分解能は広い範囲の広帯域オシロスコープで売り文句となっています。オシロスコープ・メーカーは分解能を増すために様々なハードウェアとソフトウェア設計アプローチをとっています。いくつかの方法では特性のトレードオフが発生します。このホワイトペーパーは、それらがオシロスコープ性能にどの様に影響するかの例を交えながら様々な高分解能設計アプローチの概要を解説します。

オン・ダイの電源レール測定に関する私たちの探求では、これらの測定のいくつかの例を示してきました。以前の記事でも触れましたが、DUTとしてAtmel 328マイクロコントローラのデモボードを使用し、この目的のために制御する為のファームウェアと、計測すべき信号用にボードの底面に配置した同軸ケーブルを準備します。

オン・ダイ電源レール測定を開始する準備が整ったので、ちょっと前に戻って、これらの測定値が何を示すべきかを予測することをお勧めします。CMOSゲートがオンとオフに切り替わるときに実際にダイ上で何が起こるでしょうか？オン・ダイ電源レールにはどのようなことが見られるでしょう？クロックのエッジでは何が起きるでしょうか？

オン・ダイ電源レール測定のセットアップと、テストで期待される結果の 以前の記事を事前に読んで測定を行い、その結果を見てみましょう。また、 その結果が期待通りか、期待外れであるのかにも注目します。

ダイのI / O電源レールがコア電源レールと共有されている場合に、コア電源レールの測定値を取得する方法などを紹介します。

HDO8108AオシロスコープとRP4030アクティブ電源レール・プローブの組み合わせを使用したオンダイ電圧ノイズ測定を取り上げます。

パワーレール上のノイズを測定することは単純なことです。しかしながら、間違った、あるいはおかしな結果をもたらす可能性があるいくつかの落とし穴があります。これらの課題の1つ、RFピックアップを見てみましょう。

マイクログリッパで行う測定と比較して、10:1プローブで行われた電源レール測定ではどんな効果があるかを解説します。

ここではDUTの電流負荷を最小限に抑えながら、高い測定帯域幅を達成する方法を取り上げます。

レール上の電流負荷を減らすために高い直流インピーダンスが必要です。大きな直流電圧オフセットのある非常に低いレベルの信号を見る方法を紹介します。

HDO4000およびHDO6000オシロスコープでの周波数成分の表示と解析を容易にするスペクトラムアナライザ・モードの解説、使用方法を紹介します。

良好な計測結果を得るためのおそらく最も重要な要素のプロービング。プロービングの手法とトレードオフを紹介します。

理想のプローブと実際のプローブの比較をしてプローブの仕様について考えてみましょう。

オシロスコープやプローブではアナログ帯域が必ず議論となります。ここでは帯域について解説します。

プローブの帯域と信号の立ち上がり時間の関係を検証してみましょう。

プローブの負荷効果について解説します。

ここでは、オシロスコープのプローブを選択する際に見逃されることのある重要なトピック「ダイナミックレンジ」について解説します。

ここでは前回に引き続き、ダイナミックレンジについてさらに詳しく解説します。

オシロスコープのプローブのダイナミックレンジの内部ゲイン/減衰器とノイズとの関連について解説します。

高速アクティブ・プローブのプロービングの実践例ついて解説します。

回路プロービングにおいては、最適な測定値を得る機会を増やすために使 用できるいくつかの実践例があります。前回の記事で検討し始めた実践例 ですが、ここではさらに実践例の検討を続けます。

オシロスコープを用いて伝送路の性能を評価しようとする時、理想的な点でプロービングできる幸運に恵まれないことがしばしばあります。プロービング点を仮想的にレシーバの直近に移動することが出来るソフトウェアツールについて解説します。

レーダー信号は振幅、周波数、位相変調を含む様々な種類の変調を使用します。レクロイのDemodulate演算を使えば簡単にレーダー信号の復調を行い主要なパルスパラメータを計測することができます。

デジタル・オシロスコープの基本仕様の中で最も重要なものに帯域が上げられます。帯域と仕様に対する影響について少し知っておくと、あなたのアプリケーションに最適なオシロスコープを選定する時に役立ちます。この文書では、オシロスコープの帯域について様々な方向から見てみたいと思います。

誰しもオシロスコープで捕捉した波形が画面上に安定して同じ位置に表示されないという経験をすることがあるでしょう。不安定な表示はトリガの設定が適切ではないからかもしれません。では、ちょっとトリガとは何なのか、なぜオシロスコープでトリガが重要なのかをみてみましょう。

「バナースペック」は、オシロスコープ・メーカーがよく使う言葉です。もしも、オシロスコープ・メーカーの営業に会ったことがあれば、この言葉を聞いたことがあると思います。しかし、それはどういう意味でどんな影響があるのでしょうか？

「オシロスコープのバーナー・スペック」で取り上げたサンプリング・レートは鍵となる仕様の一つです。サンプリング・レートがオシロスコープにどのような影響を与えるかを解説します。

オシロスコープのユーザは多量の高速パルスを素早く連続的に捕捉したり、比較的長い周期の少ないイベントを捕捉したりしなければならないことがたまにあります。どちらの場合も、通常の捕捉モードでは困難です。この資料ではシーケンス・モードについて解説します。

オシロスコープのいくつかの機能は特定の用途では素晴らしいものの、他の用途ではむしろじゃまになることがあります。この資料ではランダム・インタリーブ・サンプリング（RIS）が有効な用途と逆に使わないほうが良い場合を紹介します。

最近の多くのデジタル・オシロスコープやミックスド・シグナル・オシロスコープは、時間軸波形を周波数軸スペクトラムに変換する高速フーリエ変換(FFT)に基づく周波数解析機能も持ち合わせています。この機能は使うと、様々な利点があります。波形にFFTをかける理由など紹介します。

最近のオシロスコープの操作法としてフロントパネルについて解説します。

最近のオシロスコープの操作法としてタッチスクリーンの操作について解説します。

テレダイン・レクロイのオシロスコープの計測パラメータは波形中に複数の該当部分がある場合、複数の値を返してきます。ここでは１つのチャンネルのエッジと他のチャンネルのバースト波形との時間計測を行う場合を考え、３つの方法をご紹介します。

アナログ・トルク・ロードセルとアナログ・タコメータを使用して、ドライブ出力からモータ軸の機械出力までの効率の測定やモータ・ドライブの出力高調波および全高調波歪み（THD）も測定を紹介します。

自動車に、より高い安全機能、通信機能、エンタテーメント機能を搭載する要求が、電子部品の集積度と有線／無線で繋が る信号線の数を飛躍的に増加させてきました。その結果、同じサイズの固定されたスペースの中に収める信号を絶え間な く拡張することとなりました。この記事ではオシロスコープを用いた車載エレクトロニクス用 EMC 試験の検証を紹介します。

EMC試験室の試験前点検のひとつとしてIEC61000-4-4電気的ファスト・トランジェント／バースト試験における試験機器の波形確認が行われますが、この設定例をご紹介します。

DCブラシレス・モータと付随するドライブ回路の評価と解析には、動的イベント中の波形を表示し、時間の経過とともに変化する計測値を可視化する機能が必要です。この資料では従来型のパワーアナライザとモータ・ドライブ・アナライザの解析機能の比較をします。

AC誘導モータ・ドライブの徹底した特性評価と解析には、動的イベント中の波形を表示し、時間の経過とともに変化する計測値を可視化する機能が必要です。この資料では従来型のパワーアナライザとモータ・ドライブ・アナライザの解析機能の比較をします。

デジタル・データ、クロックとシリアル・データなどのアプリケーション を扱うに人は皆、いつかはジッタに関する問題に突き当たります。この資料ではジ ッタの計測と解析用として最近のデジタル・オシロスコープを用いて作られたいくつかのツールを見ていきます。

トータル・ジッタを構成する様々な分類について解説します。

なぜジッタを計測（TIEを用いて定量化）しなければならないかについて解説します。

広い意味でジッタがどのように計測されて定量 化されるかを見ていきます。

テレダイン・レクロイのオシロスコープの強力なシリア ル・デコード機能を用いたSPI出力の A/D 変換器の評価方法を解説します。

組み込みシステムのI2Cプロトコルのデバッグについて解説します。

組み込みシステムの SPIプロトコルのデバッグについて解説します。

組み込みシステムのUARTプロトコルのデバッグについて解説します。

パッシブ・プローブのグランド・リードの効果について解説します。

情報の秘匿性を守る為などに広く用いられている周波数ホッピング・スペクトラム拡散通信のオシロスコープによる解析手法を解説します。

通信に用いる直交信号系の評価を行う一般的な手法としてコンスタレーション表示がありますが、オシロスコープを用いて表示する手法を解説します。

イーサネットの10BASEに用いられていることで知られるマンチェスター・エンコーディングについての技術的基礎を簡単に解説します。

電子戦用に用いられる信号に対してよく用いられる重要な計測をどのように 行うか、また頻繁に要望される計測の一つに、RFバーストの包絡線の決定があり、この課題をこなす4つの方法を解説します。

オシロスコープのdemodulation演算は、レーダー信号の解析には非常に便利です。この演算による計測例のいくつか紹介します。

ほとんど全てのデバッグやトラブルシュートの際に、最初に行うのは一般的にデバイスや回路に何が入力されて、何が出力されるかのチェックです。ここでは電源において、電源ラインのモニタリングとトレンド関数について解説します。

ヒストグラムの基本と、信号パラメータのランダムな変動の統計的表示の仕方を解説します。

ヒストグラムを使ってどのように製品の仕様を決定するか解説します。

信号を時間軸や周波数軸に加えて統計軸で見ることにより、どのように問題の根本原因を見つける手助けになるか解説します。

ヒストグラムを使ったデバッグの一例として、パラメータ自動計測とヒストグラムおよび波形検索機能を組み合わせた 問題の解決の仕方を解説します。

SI Studioは誰でも無料で使える波形ビューワです。SI Studioでどのようなことができるか解説します。さらに詳しい使い方はこちらの資料をご覧ください。
→ SI STUDIOを波形ビューアとして使用する(PDF)

コヒーレント信号の原理について、コヒーレント信号の要件、利用の目的と手法、オシロスコープ上での表示方法について解説します。

コヒーレント信号の基礎と光変調アナライザの基本について解説します。

OMAの仕様、特にシステム帯域を取り上げ、OMAの性能指標が、計測システムにどれほど意味のある解析ができるか解説します。

最近では組み込みボード内部のシリアル通信も高速化をしており、ますます信号品位に気を配った設計がもとめられています。しかしながら配線の微細化、高密度化によってアクセスポイントが限られ、特にボード内部で高速信号ラインが閉じている場合に伝送路を流れる信号を確認することは非常に難しくなっています。TeledyneLeCroyのVirtualProbeを使用することで限られたアクセスポイントにプロービングして得られた波形を元に、確認したいテストポイントでのEyeパターンをシミュレーションにより生成し評価することが出来ます。

この資料ではプローブの校正法と負荷効果について解説します。

この資料ではプローブの校正法を実例を交えて解説します。

この資料では多様なプローブがどのような目的で使われ、それらを用いることが計測結果にどのように影響するかを見ていきます。

アプリケーション毎にどのようなプローブが有用かなど、さらにプローブの基礎について解説します。

アクティブ・プローブを少し掘り下げます。また、どのような時にパッシブ・プローブの使用が適しており、どのような時にアクティブ・プローブの使用が適しているのかも解説します。

この資料では差動プローブがどのような種類があるのかなどを解説します。

Sパラメータの基本について解説します。

シグナル・インテグリティの分野においてエキスパートである Eric Bogatin博士がオンラインで開校しているビデオ教室「Signal Integrity Academy」の紹介

S-パラメータは、インターコネクトを評価するのに良く知られた手法です。インターコネクトに正確な基準信号を入力し、どれだけの信号がコネクタを透過するか、どれ程の信号が反射するかを計測することで得られて、インターコネクトの性能について知りたい全てのことが分かります。この資料では一般的な計測シナリオの実例を示しながらSパラメータについて解説します。

2ポートのSパラメータを挿入損失とリターン・ロスとの関係と合わせて見ていきます。また、S11とS21のいくつかの重要なパターンを取り上げ、DUTについて何を明らかにするかを解説します。

S11とS21のいくつかの良く見られるパターンを取り上げ、それが何に起因するのか、そこからインターコネクトについて何が分かるのかを考えてみます。

ジッタは、長い間ずっと我々を悩ませてきたシグナル・インテグリティの訳の分からない問題の原因でした。ここでは、これまで何をして来たか、今何をしているのか、そしてこれからどのように取り扱っていけるのかという、過去、現在、未来に渡る「ジッタの物語」を始めましょう。

引き続き、ジッタの歴史とその対策の進展を振り返ります。ジッタの取扱いに、より洗練された解析手法が必要とされた1990年代の後半の状況を見てみましょう。

引き続き、ジッタの歴史とその対策の進展を振り返ります。レシーバで見られるジッタの関数としてBERを見ることについて解説します。

1990 年代の終わりから新世紀の始まりにかけて、ジッタ測定の展望が大幅に変わる転機が訪れます。この変化の歴史をこの記事で取扱います。

引き続き、ジッタの歴史とその対策の進展を振り返ります。PLLベースのクロック・データ・リカバリの概念に起因するジッタ解析の進歩のいくつかを見てみましょう。

SPARQソフトウェアのバージョン6.5.0.2から、Sパラメータ計算プロセスの一部としてインパルス応答時間を制限するオプション(Limit Impulse Response)がユーザに公開されました。

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかをDanisense社のフラックスゲート式電流センサの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、電圧出力の他の電流センサに簡単に応用できます。

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかをPEM-UK社製ロゴスキー・コイルの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、電圧出力の他の電流センサに簡単に応用できます。

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかをPearson社製電流計測センサの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、電圧出力の他の電流センサに簡単に応用できます。

CA10電流センサアダプタを使用すると、サードパーティ製電流計測デバイスをTeledyne LeCroy製プローブと同じように取り扱うことが出来ます。ここではCA10をどの様に使用するかを村田パワーソリューションズ製電流トランスフォーマの場合で簡単に紹介します。紹介したCA10のそれぞれの設定は、他の電流トランスフォーマに簡単に応用できます。

モータ軸速度、角度および絶対位置の計算の為にレゾルバ正弦/余弦信号と励起信号を使ってTeledyne LeCroyのMDA810をどの様に使用するのかを解説します。

様々な方面で高い評価を受けているPAM4変調方式ですが、この文書では、試験や解析で指摘されている課題を見る前に、PAM4の基礎を見ることにしましょう。

PAM4が実際に利用されるアプリケーションを見、それぞれのアプリケーションに必要となる試験と計測のセットアップを検討します。

PAM4信号の出現によって持ち上がった試験・計測の課題の簡単な概要を紹介します。

高速回転する正弦波変調永久磁石同期モータを使った小型電動工具をテストするのにテレダイン・レクロイのMDA810を使用した計測事例を紹介します。

モータ駆動システムの設計は非常に複雑な作業です。一般的に見られるモータ駆動装置は、可変周波数ドライブ（VFD）で、ACライン電圧をDCに変換し、そのDC電圧を変換してモータ端子に印加するパルス幅変調されたAC信号を発生する回路です。ここでは"一般的な"可変周波数ドライブ（VFD）を主要なサブシステムに分け、それらのサブシステムでの試験の要件を解説します。

モータ・ドライブ・システムの最初の記事で、"一般的な"可変周波数ドライブ（VFD）を主要なサブシステムに分け（図1）、それらのサブシステムでの試験の要件のいくつかを議論しました。次に、アーキテクチャやトポロジの観点から現実世界の様々な形式のVFDのいくつかを見てみましょう。

可変周波数モータードライブ（VFD）には、多様なアーキテクチャとトポロジがあります。 また、おなじVFDであっても、パルス幅変調（PWM）技術の応用の仕方には様々なタイプがあります。キャリアベースPWM 、空間ベクトル（パルス幅）変調（SVMまたはSVPWM）について解説します。

一般的な機器では、壁のコンセントからの交流電力が、スイッチング電源を通して直流電力に整流されて供給されます。その後、直流電力（多くの場合、5 V）は、機器のPCボード上に配置されたDC-DCコンバータに供給され、様々な電圧に変換されて各電源ラインに分配供給されます。スイッチング電源の試験に関連した測定技術と留意点をいくつか見てみましょう。

ほぼすべての携帯用電子機器、および据え置き型機器の多くは、スイッチングド電源が用いられています。ノートパソコンに電力を供給するAC電源アダプタには、コンセントに取り付ける小型のものからからより大きな四角いブロック形状のものまであります。スイッチング電源の計測で、差動測定手法がシングルエンド測定手法に勝る代表的な測定を取り上げます。それでは、電源装置測定の精度を保証するための手順を見てみましょう。

スイッチングAC-DC電源の試験に関して、これらの機器の評価に必要となる幅広い測定項目の概観から始まり、多くの場合差動プローブを用いる測定がパッシブ・プローブを用いる測定よりも優れていることを見てきました。また、電源測定における重要な エラーの原因について検討し、どのようにしてそれらを最小限に抑えるかも見てきました。では、デバイス解析の手法、特にスイッチング電源におけるスイッチング・トランジスタの解析に目を向けてみましょう。

テレダイン・レクロイのモータ・ドライブ・アナライザ(MDA)は8つの12bit入力チャンネルにより、パワーアナライザに匹敵する三相パワー計測を提供します。 このドキュメントではどうやって横河メータ＆インスツルメンツ製パワーアナライザ機器とMDAを正確に比較したか簡潔にまとめます。そして２つの機器の結果の違いについて説明します。

伝送線路評価の際に測定器との接続部に介在するコネクタの影響は悩ましい問題です。 コネクタの規格自体は広帯域なものであっても、基板への接続点でインピーダンスの乱れなくスムーズに信号を通すことは非常に難しく、設計に時間を要します。ここでは、安価なディップタイプのSMAコネクタを使用した評価基板でコネクタ接続部が測定結果に大きく影響した結果からTeledyne LeCroyのPeeling アルゴリズムを使用したGating 機能を使用して伝送線路部分のみの特性を抽出してみます。

SDAIII-CompleteLinQ ツールセットには、トータル・ジッタ、ランダム・ジッタ、デタミニスティック・ジッタ( (Tj, Rj, と Dj)および周期性ジッタ (Pj)と符号間干渉(ISI)とデューティ・サイクル・ディストーション(DCD)を含むデータ依存ジッタ(DDj)を計算します。ツール・セットには、Tj、Rj とDj を分離するためDual-Dirac モデルをベースとした三種類のアルゴリズムを実装しています。この資料では、それら三種類の手法の類似点と相違点を解説します。

テレダイン・レクロイのオシロスコープと差動アンプで、SiC、GaNパワーデバイス計測で起こる問題点・課題を解決いたします。

• デバイスの動的なON抵抗（飽和電圧）を計測
  できない
• 従来のオシロスコープでは、スイッチング時に発生するオーバーシュートや、微小なノイズを正確に計測できない。
• 6kV以上の高電圧に対応した差動プローブがない

【マイナビニュース・テクノロジ掲載記事】
高速な DDR メモリ搭載システムの設計 / 開発を強力にサポート

• 強力なアイパターン解析
• DDR のジッタ解析
• DDR 専用パラメータ解析
• 解析ビットの選択

【マイナビニュース・テクノロジ掲載記事】
モータ・ドライブの研究 / 開発に求められる多角的な解析を 1 台で実現

1. はじめに
2. 優れた基本性能 ─ 12 ビット高分解能と 8 チャンネル入力
3. 多様な用途に柔軟に対応する直感的な ユーザーインタフェース
4. デバッグに役立つ過渡現象の動的解析機能
5. 作業効率を低下させない視認性の高い表示技術
6. デジタルからメカニカルまでトータル・サポート

モータ・ドライブ・アナライザは、従来ではできなかった過渡的な動作の動的解析を高い精度で行うだけでなく、高速なコントローラの信号解析まで幅広く深く計測/解析できます。こうした新機能と有効性を紹介します。

さまざまなシナリオを想定したテレダイン・レクロイのDDR評価の新手法とその有効性を紹介します。

QPHY-DDR を使用してコンプ ライアンス・テストを行うとテストレポートが生成されます。このレポートには各テス ト項目毎の最悪値位置のズーム波形の画面キャプチャが添付されています。しかし、特 にFail の結果が出た場合など、もう少し波形を詳しく見てみたい場合があります。 この場合、実測波形を用いずに以前テストを行った保存波形を用いてテストし、該当テスト項目でQPHYを止めてズ ーム倍率を変えたりカーソルを使用して該当波形部分を詳 しくチェックすることが出来 ます。 ここではQPHY-DDR3 の場合 でご説明します。

テレダイン・レクロイのオシロスコープ（Windows搭載モデル）でリモート・プログラミングを初めて行う方の為にリモート接続の準備としてイーサネット接続の場合の接続の手順、コマンド確認方法、VBAマクロ・スクリプト例についてまとめます。

• 高効率インバータ回路測定の課題
• 12ビット高分解能オシロスコープによる動作状態での導通損失測定
• 差動アンプによる動作状態での導通損失測定　他

パルス幅変調(PWM)は電源回路や産業用制御システムで一般的に使われています。Teledyne LeCroy のオシロスコープにはPWM 信号に印加された変調信号を抽出するためのいくつものパラメータや演算が用意されており、PWMレギュレータやコントローラの直線性と正確なトラッキングを評価する事が可能です。

• ノイズの少ないクリアな波形を表示させたい
• 単発捕捉でかつ高分解能のオシロスコープがない

SPM、AFM、振動センサ、光センサの測定で起こる問題点・課題を解決いたします。

• 波形観測を行う際、波形データの保存やその後PCでの処理など一連の作業が面倒
• パルスレーザー装置からのパルス・エネルギーなどを正確に把握したい
• 補足したパラメータの統計処理
• 波形パラメータの時間変動を確認したい
• 多数の波形を短時間に取得したい。

高速パルスレーザ装置の波形観測で起こる問題点・課題を解決いたします。

SATAコネクタ等の非同軸タイプのDUTをオシロスコープで測定するにはコネクタの変換の為にフィクスチャを使用します。 このフィクスチャの伝送特性を抽出することは通常では困難です。peelingアルゴリズムを使用したTime Domain Gating機能を用いることで実際に使用するフィクスチャの測定値からフィクスチャのみのSパラメータを抽出することが可能になります。

● ON領域での損失を測定が難しい
● 広い電圧スイング波形を観測したい
● 数VのON領域を測定するのが難しい

スイッチング電源開発における素子の損失測定で起こる問題点・課題を解決いたします。

• ノイズの少ないクリアな波形を表示させたい
• 高分解能センサーを測定するのにオシロスコープ
  の分解能が8ビットしかない！

加速度／AEセンサ、音響センサ、振動センサ、光センサなどのセンサ評価で起こる問題点・課題を解決いたします。

• 従来型VNAやTDR測定器 は重量・サイズの制約が大 きく現場での測定が困難！
• ノイズの多い環境での測定で故障が心配。
• RF測定器は難しそう。
• 高周波シミュレータは敷居が 高い。

伝送路評価で起こる問題点・課題を解決いたします。

• スタート時の過渡的な回路挙動を計測したいが、うまく測れない。
• IGBTの飽和電圧：VCE(sat)を動的に測定したいが、適切な方法が見つからない。

自動車に搭載されるパワー・デバイスの計測で起こりうる問題点、課題、解決方法をご紹介します。

より高効率なインバータの開 発が求められる中、これまで 以上にスイッチング・デバイ スの詳細な測定が必要となっ てきています。

• 動的な VCE(sat) もしくは VDS(ON)測定の必要性
• 導通時損失測定方法
• 8bitオシロスコープの測定限界と 12bitオシロスコープによる測定 　　
• 差動アンプ(DA1855A)による測定
• Power Analysis Softwareオプションによる測定