![]() ![]() 物理層解析 PCIe Gen1, Gen2テスト・ソリューションテレダイン・レクロイのQPHY-PCIeテスト・ソリューションはテレダイン・レクロイ製オシロスコープを自動制御し、CEM(Card Electromechanical)仕様 Rev.1.1および2.0にて定められた全ての送信系物理層試験を行います。 QPHY-PCIeの詳細主な機能と特長
テレダイン・レクロイのQPHY-PCIeテスト・ソリューションはテレダイン・レクロイ製オシロスコープを自動制御し、 CEM(Card Electromechanical)仕様 Rev.1.1および2.0にて定められた全ての送信系物理層試験を行います。 システム・ボードおよびアドイン・カードの試験条件が仕様に規定されています。QPHY-PCIeはシステム・ボードとアドイン・カードの両仕様に従った試験に対応できます。 ![]() オシロスコープのソフトウエアに組み込まれたSigTestライブラリによって、QPHY-PCIeは仕様に規定されたものと全く同じアルゴリズムによって、必要な全ての適合試験を自動的に行うことができます。 さらに、QPHY-PCIeは2.5GT/s、5GT/s(3.5dBデエンファシス込み)、そして最後に5GT/s(6.0dBデエンファシス込み)の全ての試験を行うことが可能です。これによりユーザは3つの全ての試験フェーズに対して1つの試験レポートを作成することが出来ます。 これらの機能によりQPHY-PCIeは2.5GT/s、5.0GT/sのPCI Express送信系適合試験に必要な項目に対応した全く直感的な自動試験環境です。 組み込まれたSigTestライブラリ
![]() ![]() SigTestライブラリをオシロスコープのソフトウエアに組み込むことで、PCI-SIGで用意された適切なアルゴリズムを測定結果の計算に使用することができます。これによりスタンド・アローンのSigTestユーティリティで得られるものと同じ適切な結果を保証します。 総合的で読みやすい試験レポート
素早く仕様適合を確認する為、しばしば測定結果の要約と一覧表が必要となります。 測定器と信号捕捉/試験条件設定と共に、この情報は完全にドキュメント化され記録として残ります。QPHY-PCIeはこのプロセスを自動化されたHTMLレポート作成エンジンによって効率化します。作成された試験レポートは一覧表にまとめられた個々の試験結果の数値とPASS / FAIL情報、仕様のリミット値を含みます。レポートはPDF、HTML、もしくはXMLの形式でも保存可能です。 先進のデバッグ機能
もし不適合が発見された場合、テレダイン・レクロイのSDA IIシリアル・データ解析オプションにより原因の特定を迅速かつ容易に行うことが出来ます。SDA IIはEYEおよびジッタ測定を同時に可能で、オシロスコープのアプリケーション・ソフトウエアに完全に組み込まれています。さらに、IsoBERやISIプロット、Pj のIFFTおよび複合的ジッタモデルの様な特別な機能によって、SDA IIで測定されたEYEやジッタパラメータをより詳細に見ることが出来、問題の発生箇所を容易に特定する事が可能です。 ![]() Eye Doctor II解析ソフトウエアによってユーザは、CTLE(Continuous Time Linear Equalization)、FFE(Feed Foward Equalization)とDFE(Decision Feedback Equalization)の両方またはどちらかを信号に適応した結果を見ることが出来ます。これにより、イコライザを使用した実際の受信機がどのような形で信号を受け取るかを見ることが出来ます。 ![]() テレダイン・レクロイのSDA II解析ソフトウエアは、クロックとデータ信号の統合されたジッタおよびタイミング解析を含みます。データの解析をオシロスコープのメモリ上限まで行うことが出来、X-Stream IIテクノロジを利用することでSDA IIはEYEダイアグラムとジッタ分離結果を他のソリューションの50倍速く表示することが出来ます。さらにPCI Expressに規定されたPLL設定を、設定済みPLLリストから選択可能です。最後に、SDA IIは2つの別々のジッタ分離手法を用意しています。ひとつは業界標準のスペクトル法、ひとつはNQスケール法です。NQスケールはクロストークが存在する場合のシステムにおいてランダム・ジッタおよびデターミニスティック・ジッタの適切な分離に重要です。 ![]() さらに、Eye Doctor II解析ソフトウエアは伝送路のエミュレーションも行うことが可能です。PCIe試験において、設計エンジニアは送信系の出力でシリアルデータ測定を行います。しかし、レファレンス・シリアルデータ伝送路の縁端での解析が問題のデバッグには有効です。縁端での解析を行うために、実際の伝送路を通した測定も出来ますが、伝送路を通した後のシリアル・データ波形を見るために伝送路エミュレーションを利用することが可能です。 対応機種
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